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        詳細描述四探針測試儀的功能和特點
        瀏覽次數:279發布日期:2020-06-22
          四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M 標準而的,于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。該儀器采用了電子進行、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。
         
          適用范圍:
          1、覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試。
          2、硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發鋁膜,PCB銅箔膜。
          3、EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率  導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜。
          4、抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等。
         
          四探針測試儀的功能描述:
          1、四探針單電測量方法;
          2、液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數補償;
          3、高集成電路系統、恒流輸出;
          4、選配:PC軟件進行數據管理和處理;
          5、提供中文或英文兩種語言操作界面選擇。
         
          設備特點:
          1、可以測量高溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率;
          2、軟件、觸摸屏、高溫爐等集成于一體,可以進行可視化操作;
          3、可實現純凈氣氛條件下的測量;同時保證探針在高溫下不氧化;
          4、采用labview軟件開發,操控性、兼容性好、方便升級;
          5、可自動調節樣品測試電壓,探針和薄膜接觸閃絡現象;
          6、控溫和測溫采用同一個傳感器,保證樣品每次采集的溫度都是樣品實際溫度;
          7、可配套使用Keithley2400或2600數字多用表。
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