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        多模式超聲波測厚儀 型號:DP-T180
        瀏覽次數:16發布日期:2021-04-08

        多模式超聲波測厚儀  型號:DP-T180

        DP-T180產品概要
        DP-T180多模式超聲波測厚儀,基于超聲波傳播原理,可對金屬、塑料、陶瓷、玻璃及其他多種超聲波的良導體材料進行厚度測量,也可實現對材料聲速的反測。被廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等領域的生產設備中各種管道及壓力容器腐蝕減薄程度的監測,也可用于對各種板材及各種加工零件的測量。

        DP-T180技術參數
        測量范圍 發射-回波模式下,(0.65~600)mm
        45#鋼,探頭分段適用);
        回波-回波模式下,(3~30)mm                
        示值誤差 ±0.05mm(≤10mm);±(0.5%H+0.01)mm(>10mm);
        H為被測物厚度
        測量頻率 單點測量時每秒鐘7次、掃描模式每秒鐘16次
        屏幕顯示 高對比度的段碼液晶顯示(支持EL背光顯示)
         0.1mm/0.01mm可切換
        聲速范圍 (1000~9999)m/s(可對已知厚度物體反測聲速)
        工作模式 發射-回波模式(P-E)和回波-回波(E-E)模式
        探頭校準 零點校準、兩點校準
        測厚模式 單點測量、值測量和差值測量
        數據存儲 可存儲管理20組(每組100個)厚度數據
        單位制氏 公制或者英制(可選)
        通訊接口 USB1.1(可與PC通訊接口)
        工作電源 兩節5號(AA尺寸)堿性電池,可連續工作50小時(默認亮度時)以上
        自動節電 具有自動關機節電功能
        外殼屬性 材質:ABS工程塑料;尺寸:150mm×74mm×32mm;重量:245g

        功能特色
        適用于測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波良導體的厚度。
        l兼備兩種測厚模式:發射-回波模式和回波-回波模式,可以穿透涂層進行厚度測量而不計入涂層厚度。
        大容量存儲,低功耗設計,可超長待機數月以上。
        已知厚度可以反測聲速,滿足多種材料的厚度檢測需求。
        選配USB數據處理軟件,可連接電腦進行數據分析、存儲、打印等。
        可以兼容多種不同頻率、不同晶片尺寸探頭,自動識別高溫、粗晶、小管徑等不同探頭

        探頭選擇

        名稱

        頻 率

        (MHz)

        探 頭

        直 徑

        測量范圍

        小管徑

        特性描述

        測厚探頭

        5

        10mm

        1.0mm~600mm(鋼)

        Φ20mm×3.0mm

        通用

        測厚探頭

        5

        10mm

        1.0mm~600mm(鋼)

        Φ20mm×3.0mm

        通用

        微徑探頭

        7

        6mm

        0.65mm~200mm(鋼)

        Φ15mm×2.0mm

        用于薄壁及小弧面的測量

        高溫探頭

        5

        12mm

        1mm~600mm(鋼)

        30mm

        用于溫度小于300℃的材料的測量

        粗晶探頭

        2.5

        14mm

        3mm~600mm(鋼)

         

        20mm

        用于鑄鐵等粗晶材質的測量

        窄脈沖探頭

        5

        10mm

        發射-回波模式下2mm~600mm(鋼)

        回波-回波模式下3mm~30mm(鋼)

        Φ20mm×3.0mm

        用于穿透涂層測厚

         

         

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